新型X系列扫描测头，由LeitzMesstechnik开发设计，为高精度和高效率的三坐标测量提供了专业的技术解决方案。快速而又精确，即使在携带超长加长杆的情况下，这些固定式扫描测头是检验高精度机加工件和复杂几何形状的理想工具。
X—系列 测头是完善的三维模拟测头系统。探测的偏斜通过高分辨率的线性可变微分传感器(LVDT)进行测量，所有的数据都垂直于工件表面进行评估，这样就消除了余弦误差。这些特征在检测复杂几何量，如齿轮、转子、叶片等工件时至关重要，能够保证更高的测量精度和效率。
Leitz扫描测头能够支持所有的探测模式，如：单点探测、自定心测量以及连续高速扫描，以完成快速精确的轮廓和外形测量。
LSP测头具备两种型号：LSP-X5和LSP-X3。LSP-X5能够携带长达 500mm以及重量达500g的探针和加长杆。LSP-X3能够携带长达360 mm以及重量达1509的探针和加长杆。
超长探针: 允许探测工件内部的深孔等特征。包括自动重量平衡系统。
自动探针更换功能: 在测量过程中执行自动探针更换,而不需要重新校准。探针的磁力吸盘保证了快速而精确的更换。
具备碰撞保护功能：在发生误碰撞的情况下保护测座。使得测量系统的工作时间达到最大化，并降低了拥有成本。
